品質管理・リスクマネジメント 重要度:★★★出題: AM2・PM1・PM2
信頼度成長曲線(ゴンペルツ曲線・ロジスティック曲線)と品質判定
しんらいどせいちょうきょくせん / Software Reliability Growth Model (SRGM / Gompertz Curve)
テスト消化件数(または経過時間)に対する累積バグ発見数の推移をS字曲線(ゴンペルツ曲線等)に当てはめ、潜在バグ総数の推定とテスト収束(打ち切り)判定を行う手法です。
3行速習ポイント
- テスト消化件数(または経過時間)に対する累積バグ発見数の推移をS字曲線(ゴンペルツ曲線等)に当てはめ、潜在バグ総数の推定とテスト収束(打ち切り)判定を行う手法です。
- 単に「バグ発見数が減ったから品質OK」と誤診するのを防ぐため、必ず「テスト消化率(カバレッジ)」「バグ発生密度」「試験密度」の4象限マトリクスでクロス評価します。
- 試験対策:午後I・午後IIの品質管理問題で最頻出の実践ノウハウであり、「バグが少なくてもテスト密度が低いモジュールはテスト不足(潜在バグ残留)と判定して追加テストを指示した」と論述します。
図解
図試験密度 × バグ発生密度による4象限品質判定マトリクス2軸×4象限マトリクス
テスト網羅性と欠陥検出数のクロス分析によるモジュール別処方箋↕【縦軸】試験密度(テストケース数÷規模):上段: 高い(基準範囲内・十分)↔下段: 低い(基準未満・テスト不足)
↔【横軸】バグ発生密度(検出バグ数÷規模):左列: 低い(バグ発見少)──▶右列: 高い(バグ多発)
【左上・象限1】品質良好・収束領域
出荷判定OK試験密度:高 × バグ発生密度:低
十分なテストケースを消化した上でバグ発生が低く抑えられており、信頼度成長曲線も収束している状態。出荷判定合格とする。
【右上・象限2】品質不良・作り込み不足領域
重点改修・再設計試験密度:高 × バグ発生密度:高
テストは十分に実施されているがバグが多発している状態。上流設計の欠陥や実装品質不良が疑われるため、根本原因分析と重点コードレビュー・再設計を行う。
【左下・象限3】テスト不足・潜在バグ残留領域
テスト観点追加(要注意)試験密度:低 × バグ発生密度:低
一見バグが少なく見えるが、異常系や境界値のテストケースが不足しているためバグが見つかっていない危険な状態。テスト観点を補強して追加テストを実施する。
【右下・象限4】危険領域(テスト不足かつバグ多発)
テスト中断・全面点検試験密度:低 × バグ発生密度:高
わずかなテストしかしていないのに既にバグが噴出している最悪の状態。テストを一時中断して設計書・ソースコードの全面点検と作り直し(品質再生)を断行する。
💡 午後I・午後IIの品質管理で最も得点源になる図解です。特に左下象限(試験密度が低くバグも少ない=実はテスト観点漏れでバグが見つかっていないだけ)への追加テスト指示は黄金パターンです。
概要と本質
テスト消化件数(または経過時間)に対する累積バグ発見数の推移をS字曲線(ゴンペルツ曲線等)に当てはめ、潜在バグ総数の推定とテスト収束(打ち切り)判定を行う手法です。単に「バグ発見数が減ったから品質OK」と誤診するのを防ぐため、必ず「テスト消化率(カバレッジ)」「バグ発生密度」「試験密度」の4象限マトリクスでクロス評価します。
重要ポイント・コア概念
- テスト消化に伴う累積バグ発生数の推移を信頼度成長曲線(ゴンペルツ曲線・ロジスティック曲線)と照合し、バグ発生率の減衰から収束状況を評価
- 単なるバグ件数の減少だけで完了判定せず、『試験密度(テスト項目数÷規模)』×『バグ発生密度(検出バグ数÷規模)』の4象限マトリクスで各モジュールをクロス評価
- 定量的効果例:サブシステム別の試験密度×バグ密度4象限分析を実施し、バグ発生が極端に少なかった外部決済連携のテスト観点漏れを摘出して重大バグ8件を事前発見
午後I記述・午後II小論文試験での攻略ポイント
午後I・午後IIの品質管理問題で最も頻出する実践ノウハウです。「バグが少なくてもテスト密度が低いモジュールはテスト不足(潜在バグ残留)と判定して追加テストを指示した」と論述します。
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